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J-GLOBAL ID：201903014605408200
モード遅延時間差分布試験方法および試験装置
Inventor：
,
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Applicant, Patent owner：
Agent (2)：
岡田 賢治
, 今下 勝博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2017238140
Publication number (International publication number)：2019105530
Application date： Dec. 12, 2017
Publication date： Jun. 27, 2019
Summary：
【課題】高価なレーザ等を用いずに、光ファイバのモード遅延時間差分布を測定可能なモード遅延時間差分布試験方法および試験装置を提供することを目的とする。【解決手段】本開示の光パルス試験方法及び光パルス試験装置は、DMDを直接測定するのではなく、OFDRに比べて比較的安価なデバイスで構築可能なOTDRを用いて被試験光ファイバに光パルスを入射し、後方散乱光に含まれる基本モードと高次モードの強度比率からそれぞれのモードフィールド径(MFD)を取得し、伝搬定数と電界分布の関係性を利用してそのMFDからDMDを算出することとした。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
被試験光ファイバを基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを生成する生成手順と、
前記生成手順で生成した前記試験光パルスを任意のモードで前記被試験光ファイバの一端に入射する第1入射手順と、
前記第1入射手順で前記被試験光ファイバの一端に入射した前記試験光パルスの戻り光を基本モード及び第一高次モードに分離する第1モード分波手順と、
前記第1モード分波手順で分離した前記戻り光のモード成分それぞれを光電変換し、前記被試験光ファイバの一端からの距離に対する前記戻り光のモード成分それぞれの第1強度分布を取得する第1光強度取得手順と、
前記生成手順で生成した前記試験光パルスを任意のモードで前記被試験光ファイバの他端に入射する第2入射手順と、
前記第2入射手順で前記被試験光ファイバの他端に入射した前記試験光パルスの戻り光を基本モード及び第一高次モードに分離する第2モード分波手順と、
前記第2モード分波手順で分離した前記戻り光のモード成分それぞれを光電変換し、前記被試験光ファイバの一端からの距離に対する前記戻り光のモード成分それぞれの第2強度分布を取得する第2光強度取得手順と、
前記第1光強度取得手順で取得した第1強度分布と前記第2光強度取得手順で取得した第2強度分布とから前記被試験光ファイバの任意位置における前記戻り光のモード成分それぞれの対数変換した強度の相加平均を算出し、基本モードの対数変換した強度の相加平均と第一高次モードの対数変換した強度の相加平均との差に基づいて基本モードのモードフィールド径と第一高次モードのモードフィールド径を取得するMFD算出手順と、
前記MFD算出手順で取得した基本モードのモードフィールド径と第一高次モードのモードフィールド径からモード遅延時間差を算出するDMD算出手順と、
を行うモード遅延時間差分布試験方法。
IPC (1)：
FI (1)：
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