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J-GLOBAL ID：201903019092737050

質量分析方法

Inventor： 津越 敬寿 ,  三島 有二
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人産業技術総合研究所
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2017022699
Publication number (International publication number)：WO2018012220
Application date： Jun. 20, 2017
Publication date： Jan. 18, 2018
Summary：

試料を質量分析装置内部で加熱気化させて質量分析する方法において、低沸点の成分を含む試料の正確な分析測定を与え得る質量分析方法の提供。 減圧された試料チャンバ内で試料を加熱して気化させた気化ガスをイオン化させm/z値に対する検出強度を測定する質量分析方法である。気化ガスは気化温度以上に加熱された後に試料チャンバ内部に放出されることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

減圧された試料チャンバ内で試料を加熱して気化させたガス化成分をイオン化させm/z値に対する検出強度を測定する質量分析方法であって、前記試料チャンバ内において前記試料をガス化開始温度以上の計測温度に加熱しつつ前記計測温度にて前記試料チャンバ内部に放出されることを特徴とする質量分析方法。

IPC (1)：

G01N 27/62

FI (2)：

G01N27/62 G ,  G01N27/62 F

F-Term (5)：

2G041CA01 ,  2G041EA01 ,  2G041EA03 ,  2G041GA17 ,  2G041GA19