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J-GLOBAL ID:202001018467671637   Update date: Sep. 19, 2024

Sugawara Yoshihiro

スガワラ ヨシヒロ | Sugawara Yoshihiro
Affiliation and department:
Job title: 上級研究員
Homepage URL  (1): https://www.jfcc.or.jp/
Research field  (2): Crystal engineering ,  Structural and functional materials
Research keywords  (5): 二次電池 ,  半導体 ,  転位 ,  界面 ,  電子顕微鏡
Research theme for competitive and other funds  (6):
  • 2020 - 2023 次世代パワー半導体β型酸化ガリウムの大面積転位検出分類法の開発
  • 2020 - 2023 ワイドバンドギャップ半導体結晶の加工導入欠陥構造・導入メカニズムの解明
  • 2017 - 2020 Effects of defects and surface structure on oxide film on non-polar 4H-SiC plane
  • 2016 - 2018 Development of crystal defect revelation technique for next-generation power semiconductor material Ga2O3
  • 2014 - 2017 Investigation of formation mechanism of crystal defects induced by machining at the surface of single crystal SiC
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Papers (105):
  • Narihito Okada, Ryota Hidaka, Taketo Kowaki, Takahiro Saito, Yoshihiro Sugawara, Daisaku Yokoe, Yongzhao Yao, Yukari Ishikawa, Satoshi Kurai, Yoichi Yamada, et al. Fabrication of high-quality Al-polar and N-polar AlN templates through self-forming tiny-pit layers and polarity inversion. Journal of Applied Physics. 2024. 136. 2
  • Yukari Ishikawa, Yoshihiro Sugawara, Yongzhao Yao, Makoto Miyoshi, Takashi Egawa. Characteristics of dislocations induced by Vickers indentation in hydride vapor phase epitaxy GaN. Journal of Materials Science. 2024. 59. 2974-2987
  • Kei Nakayama, Hidenori Miki, Takashi Nakagawa, Kousuke Noi, Yoshihiro Sugawara, Shunsuke Kobayashi, Katsutoshi Sakurai, Hideki Iba, Akihide Kuwabara, Yuichi Ikuhara, et al. Composite anode for fluoride-ion batteries using alloy formation and phase separation in charge and discharge processes. Journal of Materials Chemistry A. 2024
  • Yongzhao Yao, Yoshihiro Sugawara, Kohei Sasaki, Akito Kuramata, Yukari Ishikawa. Anisotropic mechanical properties of β-Ga2O3 single-crystal measured via angle-dependent nanoindentation using a Berkovich indenter【Open Access】. Journal of Applied Physics. 2023. 134. 215106
  • Yongzhao Yao, Yoshiyuki Tsusaka, Keiichi Hirano, Kohei Sasaki, Akito Kuramata, Yoshihiro Sugawara, Yukari Ishikawa. Three-dimensional distribution and propagation of dislocations in β-Ga2O3 revealed by Borrmann effect X-ray topography【Open Access】. Journal of Applied Physics. 2023. 134. 155104
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MISC (8):
  • Yukari Ishikawa, Yong-Zhao Yao, Koji Sato, Yoshihiro Sugawara, Daisaku Yokoe. Invited: Analysis and Detection of Dislocations In GaN. 2019 IEEE INTERNATIONAL MEETING FOR FUTURE OF ELECTRON DEVICES, KANSAI (IMFEDK2019). 2019. 63-66
  • Yongzhao Yau, Yoshihiro Sugawara, Yukari Ishikawa, Yumiko Takahashi, Keiichi Hirano. Synchrotron X-Ray Topography Observation and Classification of Dislocations in beta-Ga2O3 single crystal substrates grown by EFG. 2019 COMPOUND SEMICONDUCTOR WEEK (CSW). 2019
  • 幾原裕美, GAO Xiang, 菅原義弘, FISHER Craig A. J., 桑原彰秀, 森分博紀, 小浜恵一, 射場英紀, 幾原雄一. Atomic level microstructural changes of the thin film cathode for lithium ion batteries by electrochemical cycling. 電池討論会講演要旨集. 2017. 58th
  • 姚 永昭, 石川 由加里, 菅原 義弘. 低損失・省エネパワーデバイス用SiC結晶欠陥検出技術の開発 (特集 環境・エネルギー問題に挑戦するJFCC). 金属. 2013. 83. 5. 425-432
  • YAMADA Yutaka, WATANABE Tomonori, MIYATA Seiki, MUROGA Takemi, IWAI Hiroyuki, IZUMI Teruo, SHIOHARA Yuh, IIJIMA Yasuhiro, SAITOH Takashi, KATOH Takeharu, et al. Development of YBCO coated conductors using IBAD-PLD method-prospects for the practical conductors. 2003. 68. 136-136
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Patents (5):
  • 半導体単結晶基板の欠陥観察方法
  • 単結晶試料の結晶方位測定方法
  • 単結晶性薄膜
  • 基板上に中間層を介して薄膜を形成する方法
  • 走査電子顕微鏡の試料冷却装置
Books (4):
  • 次世代半導体用の難加工結晶材料のための超精密加工技術
    (株)R&D支援センター 2024 ISBN:4905507715
  • ナノコーティング : セラミックス・コーティング技術の新しい展開
    技報堂出版 2010 ISBN:9784765503969
  • 材料開発のための顕微鏡法と応用写真集 = Practical microscopy techniques for materials development
    日本金属学会 2006 ISBN:4889030743
  • セラミックデータブック1995
    工業製品技術協会(株式会社テクノプラザ) 1995
Lectures and oral presentations  (52):
  • ウィークビーム法およびCBED法を用いたβ-Ga2O3結晶中の転位構造の同定
    (日本顕微鏡学会第80回学術講演会)
  • 全固体フッ化物電池のPb対極におけるフッ化挙動の電子線後方散乱回折法による微構造解析
    (第64回電池討論会)
  • ビッカースインデンテーションによりHVPE-GaN結晶内に導入された転位の構造
    (日本顕微鏡学会第77回学術講演会)
  • ドメイン境界を有するLi過剰系正極薄膜の格子構造と充放電特性
    (日本顕微鏡学会第76回学術講演会)
  • サファイア基板上に形成したLi過剰系正極薄膜の界面構造
    (第60回電池討論会)
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Education (1):
  • 2023 - The University of Tokyo The Graduate School of Engineering
Professional career (1):
  • 博士(工学), 論文博士 (東京大学大学院工学系研究科)
Work history (4):
  • 2007/04 - 現在 JFCC ナノ構造研究所 上級研究員(途中, 職名変更)
  • 2000/04 - JFCC 試験研究所 副主任研究員(途中, 職制変更により研究員)
  • 1990/08 - JFCC 試験研究所 技術員
  • 1987/04 - 一般財団法人ファインセラミックスセンター(JFCC)入所 試験研究所 技術助手
Committee career (1):
  • 2019/04 - 2021/03 日本顕微鏡学会和文誌「顕微鏡」編集委員会 幹事
Awards (5):
  • 2021/07 - 公益社団法人 日本セラミックス協会 第46回学術写真賞 優秀賞 多光子励起PLによるGaN結晶中の転位挙動の3次元可視化
  • 2020/11 - 公益社団法人 日本セラミックス協会 第45回学術写真賞 特別賞 ビッカース圧入で発生したGaN結晶中の転位3次元構造観察
  • 2018/09 - 公益社団法人 応用物理学会 第12回 応用物理学会Poster Award 放射光X線トポグラフィによるPVT法AlN単結晶基板の転位評価
  • 2012/05 - 公益社団法人 日本セラミックス協会 平成23年度 技術振興賞 炭化ケイ素ウエハの簡易な欠陥検出法の開発
  • 1999/05 - 社団法人 日本電子顕微鏡学会 創立50周年記念技術賞
Association Membership(s) (2):
公益社団法人 応用物理学会 ,  公益社団法人 日本顕微鏡学会
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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