Rchr
J-GLOBAL ID:202001020642018725   Update date: Apr. 16, 2024

Yokogawa Ryo

ヨコガワ リョウ | Yokogawa Ryo
Affiliation and department:
Job title: 助教
Research field  (2): Crystal engineering ,  Electric/electronic material engineering
Research keywords  (7): 結晶工学 ,  フォノンエンジニアリング ,  熱電発電デバイス ,  Siナノワイヤ ,  シリコンゲルマニウム(SiGe) ,  ラマン分光法 ,  X線非弾性散乱法
Research theme for competitive and other funds  (4):
  • 2023 - 2026 偏析と転写によるゲルマニウムナノシート/絶縁膜積層基板の創出
  • 2021 - 2024 温度可変ラマン分光法によるSiGe混晶の微視的な熱伝導機構解明に関する研究
  • 2020 - 2022 Study on evaluation of thermal properties for thermoelectric Si device by temperature dependent X-ray diffraction with synchrotron radiation
  • 2017 - 2020 ラマン分光オペランド測定による極微細熱電発電Siナノワイヤデバイスの熱伝導率評価
Papers (59):
  • Ryo Yokogawa, Sho Sugawa, Ichiro Yonenaga, Yasutomo Arai, Atsushi Ogura. Determination of Ge-fraction-shift coefficients for Raman spectroscopy in all vibration modes investigated by single-crystalline bulk SiGe and its application to strain evaluation in SiGe film grown on substrate. Japanese Journal of Applied Physics. 2024. 63. 3. 035503-035503
  • Yuta Ito, Ryo Yokogawa, Wei-Chen Wen, Yuji Yamamoto, Takuya Minowa, Atsushi Ogura. Strain and optical characteristics analyses of three-dimentional self-ordered multilayered SiGe nanodots by photoluminescence and Raman spectroscopy. Japanese Journal of Applied Physics. 2024. 63. 3. 03SP31-03SP31
  • S. Sugawa, R. Yokogawa, A. Ogura. Local thermal conductivity properties of a SiGe nanowire observed by laser power sweep Raman spectroscopy. Japanese Journal of Applied Physics. 2024. 63. 2. 02SP68-02SP68
  • Ichiro Hirosawa, Kazutoshi Yoshioka, Ryo Yokogawa, Takeshi Watanabe, Atsushi Ogura. Strain distributions in carbon-doped silicon nanowires along [110] and [100] investigated by X-ray diffraction. Japanese Journal of Applied Physics. 2023. 63. 1. 01SP11-01SP11
  • Yuiha Maeda, Ryo Yokogawa, Sho Sugawa, Chia-Tsong Chen, Kasidit Toprasertpong, Mitsuru Takenaka, Shinichi Takagi, Atsushi Ogura. Evaluation of Anisotropic Biaxial Stress in Extremely-Thin Body (100) Silicon-Germanium-on-Insulator p-Type Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect-Transistor by Oil-Immersion Raman Spectroscopy. ECS Transactions. 2023. 112. 1. 37-43
more...
MISC (1):
  • 藤原孝将, 吉岡和俊, 横川凌, 小椋厚志, 廣沢一郎. SixGe1-x/Ge薄膜のGe-K吸収端におけるDAFSスペクトルの測定と解析. 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム(Web). 2020. 33rd
Lectures and oral presentations  (197):
  • W原料としてn-BuNC-W(CO)5を用いたALD法によるWS2の成膜
    (第71回応用物理学会春季学術講演会 2024)
  • 結晶シリコン太陽電池における電極周辺応力の温度評価
    (第71回応用物理学会春季学術講演会 2024)
  • SiGeラマンスペクトルの非対称ブロードニングに関する考察
    (第71回応用物理学会春季学術講演会 2024)
  • 多層Staggered SiGeナノドットにおけるSiスペーサ成長温度と光学特性についての評価
    (第71回応用物理学会春季学術講演会 2024)
  • X線吸収分光法を用いたバルクSiGeのDebye-Waller因子評価
    (第71回応用物理学会春季学術講演会 2024)
more...
Education (3):
  • 2017 - 2020 Meiji University
  • 2015 - 2017 Meiji University
  • 2011 - 2015 Meiji University School of Science and Technology Department of Electrics and Bioinformatics
Work history (3):
  • 2020/04 - 現在 Meiji University School of Science and Technology Department of Electrics and Bioinformatics
  • 2020/04 - 2021/03 Japan Synchrotron Radiation Research Institute
  • 2017/04 - 2020/03 日本学術振興会 特別研究員DC1
Committee career (3):
  • 2023/04 - 現在 公益社団法人 応用物理学会 半導体の結晶成長と加工および評価に関する産学連携委員会 庶務幹事
  • 2021 - 2022 19th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP XIX) Organizing Committee
  • 2020 - 2021 International Workshop on Dielectric Thin Films (IWDTF) 2021 Steering Committee
Awards (7):
  • 2020/12 - 第四回フォノンエンジニアリング研究会 講演奨励賞 X線非弾性散乱法で観測されるBulk SiGe単結晶フォノンスペクトルの振る舞い
  • 2020/06 - Applied Physics Letters Featured Article Anomalous low energy phonon dispersion in bulk silicon-germanium observed by inelastic x-ray scattering
  • 2020/02 - 電子デバイス界面テクノロジー研究会-材料・プロセス・評価の物理-(第25回) 研究会活性化奨励賞
  • 2019/01 - 電子デバイス界面テクノロジー研究会-材料・プロセス・評価の物理-(第24回) 研究会活性化奨励賞
  • 2017/03 - 明治大学大学院 大学院長賞
Show all
Association Membership(s) (2):
The Electrochemical Society ,  応用物理学会
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

Return to Previous Page