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J-GLOBAL ID：202002212357752959   Reference number：20A0802690

Relationship between DNA damage by radiation and change of the characteristic of DNA transistor

軟エックス線によるDNA損傷とトランジスタ特性変動の相関解明

Author (6)： MATSUO NAOTO (兵庫県大) ,  YOSHIDA KAZUKI (兵庫県大) ,  HEYA AKIRA (兵庫県大) ,  YAMANA KAZUSHIGE (兵庫県大) ,  SUMITOMO KOJI (兵庫県大) ,  TABEI TETSUO (広島大)
Material： 生体医歯工学共同研究拠点成果報告会
Volume： 2019  Page： 100  Publication year： 2020 
JST Material Number： F2283A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray ,...
Semi thesaurus term： *MOS transistor ,...

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JST classification (2)： Biometry and biometric analysis in geneyal  (EL03010R) ,  Electric and electronic parts in general  (NA05010H)

Terms in the title (4)： エックス線 ,  DNA損傷 ,  トランジスタ ,  相関