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J-GLOBAL ID：202002216469890362   Reference number：20A0117359

System for Emission Property Measurements of FEAs under Gamma-ray Irradiation and Evaluation of Field Emission Properties

ガンマ線照射下におけるFEAの特性測定装置とそれを用いた電子放出特性の評価

Author (8)： GOTO YASUHITO (京大 大学院工学研究科) ,  MORITO TERUYUKI (京大 大学院工学研究科) ,  HANDA YUSUKE (京大 大学院工学研究科) ,  NAGAO MASAYOSHI (産業技術総合研 ナノエレクトロニクス研究部門) ,  SATO NOBUHIRO (京大 複合原子力科研) ,  AKIYOSHI MASAFUMI (大阪府大 放射線研究セ) ,  TAKAGI IKUJI (京大 大学院工学研究科) ,  OKAMOTO TAMOTSU (木更津工高専)
Material： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
Volume： 119  Issue： 305(ED2019 59-75)  Page： 59-62  Publication year： Nov. 14, 2019 
JST Material Number： S0532B  ISSN： 0913-5685  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *emitter ,  *array ,  field emission ,  *gamma-ray irradiation ,  electron emission ,  radiation resistance(radiation effect) ,  vacuum vessel

JST classification (1)： Electron and ion sources  (BD02020U)

Reference (7)：

• M. Nanba, Y. Takiguchi, Y. Honda, Y. Hirano, T. Watabe, N. Egami, K. Miya, K. Nakamura, M. Taniguchi, S. Itoh, and A. Kobayashi, ′′640 x 480 pixel active-matrix Spindt-type field emitter array image sensor with high-gain avalanche rushing amorphous photoconductor target′′, J. Vac. Sci. Technol. B, vol. 28, no. 1, pp. 96-103, Jan.2010.
• M. Nagao, Y. Gotoh, Y. Neo, and H. Mimura, “Beam profile measurement of volcano-structured double-gated Spindt-type field emitter arrays”, J. Vac. Sci. Technol. B vol.34, no.2, pp.02G108/1-8, Mar./Apr. 2016.
• Y. Gotoh, H. Tsuji, M. Nagao, T. Masuzawa, Y. Neo, H. Mimura, T. Okamoto, N. Sato, M. Akiyoshi, and I. Takagi, “Radiation tolerance of compact image sensor with field emitter array and cadmium telluride-based photoconductor”, Tech. Dig. Of the 29^th International Vacuum Nanoelectronics Conference, PE2C4, pp.20-21, Vancouver, Canada, Jul.2016.
• 森藤瑛之, 長尾昌善, 佐藤信浩, 秋吉優史, 高木郁二, 後藤康仁, ”高線量率のX線照射下におけるフィールドエミッタアレイの動作”, 電子情報通信学会電子デバイス研究会, ED2017-46, pp.43-46, Jul.2017.
• 後藤康仁, 辻博司, 長尾昌善, 秋吉優史, 高木郁二, ”エックス線照射下におけるフィールドエミッタアレイの動作特性評価装置”, J. Vac. Soc. Jpn. vol.60, no.8, pp.328-333, Aug., 2017.

Terms in the title (5)： ガンマ線照射 ,  FEA ,  測定装置 ,  電子放出 ,  評価