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J-GLOBAL ID：202002220089533220   Reference number：20A1567457

Characterization of Microstructures by X-Ray Diffraction Line Profile Analysis II. Line Profile Analysis Using Synchrotron Radiation

X線回折ラインプロファイル解析による微視組織評価法 2.放射光を用いたラインプロファイル解析

Author (3)： SHOBU TAKAHISA (国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 原子力科学研究部門 物質科学研究センター) ,  SHIRO AYUMI (国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 量子ビーム応用部門) ,  YOSHIDA YUTAKA (国立大学法人北見工業大学 工学部 機械電気系)
Material： 材料  (Journal of the Society of Materials Science, Japan)
Volume： 69  Issue： 4  Page： 343-347(J-STAGE)  Publication year： 2020 
JST Material Number： F0385A  ISSN： 0514-5163  CODEN： ZARYA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray diffraction ,  synchrotron radiation ,  austenitic stainless steel ,  measurement ,  dislocation density ,  synchrotron radiation facility ,  analysis ,  resolving power ,  stress strain curve
Semi thesaurus term： SPring-8 ,  SUS 316L ,  in situ measurement ,  ラインプロファイル解析 ,  diffraction pattern ,  angular resolution ,  synchrotron radiation

Author keywords (1)： Synchrotron radiation Line profile analysis Dislocation density In-situ measurement

JST classification (1)： Metallography  (WB01010R)

Reference (16)：

• 1) K. Tanaka, K. Suzuki and Y. Akiniwa, “X-ray evaluation of residual stress”, Yokeido (2006).
• 2) K. Suzuki, S. Nishikawa, Y. Akiniwa, M, Uchiyama, S. Okido, T. Hashimoto, Y. Miura and T. Yunomura, “X-ray stress measurement using area detector”, Yokeido (2015).
• 3) A.R. Stokes, A.J.C. Wilson, “The diffraction of X rays by distorted crystal aggregates”, Proceedings of the Physical Society, Vol.56, pp.174-181 (1944).
• 4) W.H. Hall, “X-Ray Line Broadening in Metals”, Proceedings of the Physical Society, Section A, Vol.62, pp.741-743 (1949).
• 5) B. Averbach and B. Warren, “Interpretation of X-Ray Patterns of Cold-Worked Metal”, Journal. Applied. Physics, Vol.20, pp.885-886 (1949).

Terms in the title (6)： X線回折 ,  プロファイル ,  解析 ,  組織 ,  評価法 ,  放射光