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J-GLOBAL ID：202002226028946312   Reference number：20A1395305

Photoresponse observation of monolayer WSe₂/MoSe₂ in-plane heterostructure by a laser-combined multiprobe measurement

光励起多探針計測を用いた単層WSe₂/MoSe₂面内ヘテロ構造の光応答評価

Author (10)： MOGI HIROYUKI (筑波大数理) ,  Wang Zi-han (筑波大数理) ,  BAMBA TAKAFUMI (筑波大数理) ,  TAKAGUCHI YUHEI (首都大理) ,  ENDO TAKAHIKO (首都大理) ,  YOSHIDA SHOJI (筑波大数理) ,  TANINAKA ATSUSHI (筑波大数理) ,  OIGAWA HARUHIRO (筑波大数理) ,  MIYATA YASUMITSU (首都大理) ,  SHIGEKAWA HIDEMI (筑波大数理)
Material： 日本表面真空学会学術講演会要旨集(Web)
Volume： 2019  Page： 1Da01R(J-STAGE)  Publication year： 2019 
JST Material Number： U1883A  ISSN： 2434-8589  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： response ,  selenide (chalcogenide) ,  molybdenum compound ,  thin film ,  *semiconductor thin film ,  *femtosecond laser ,  *scanning tunneling microscope ,  tungsten compound ,  device structure ,  band structure ,  photocurrent ,  *tungsten selenide ,  *molybdenum selenide ,  hetero-structure ,  monolayer film
Semi thesaurus term： *femtosecond pulse laser ,  optical response

JST classification (1)： Semiconductor thin films  (BK14040E)

Terms in the title (7)： 光励起 ,  探針 ,  計測 ,  単層 ,  ヘテロ構造 ,  光応答 ,  評価