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J-GLOBAL ID：202002229821148591   Reference number：20A0116819

Non-destructive depth profiling of tritium in graphite tiles from Large Helical Device using β-ray induced X-ray spectrometry and Monte Carlo simulation

β線誘起X線計測法およびモンテカルロシミュレーションによる大型ヘリカル装置LHDで使用された黒鉛タイル中のトリチウム深さ方向分布の非破壊測定

Author (4)： LEE Sun Eui (Univ. Toyama, Toyama, JPN) ,  HATANO Yuji (Univ. Toyama, Toyama, JPN) ,  HARA Masanori (Univ. Toyama, Toyama, JPN) ,  MASUZAKI Suguru (National Inst. Fusion Sci., Toki, JPN)
Material： 富山大学研究推進機構水素同位体科学研究センター研究報告  (Annual Report of Hydrogen Isotope Research Center, Organization for Promotion of Research, University of Toyama, JAPAN)
Volume： 38  Page： 1-8  Publication year： Dec. 06, 2019 
JST Material Number： X0665A  ISSN： 2433-5908  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *tritium ,  *heliotron ,  *plasma facing material ,  graphite ,  *X-ray spectrometry ,  nondestructive measurement ,  *simulation ,  characteristic X-ray ,  bremsstrahlung ,  beta particle ,  *depth profile
Semi thesaurus term： *tritium ,  *LHD ,  graphite ,  *Monte Carlo simulation ,  characteristic X-ray

JST classification (2)： Fusion devices  (BJ02083Z) ,  Radiation detection and detectors  (AD08020J)

Terms in the title (13)： β線 ,  誘起 ,  X線 ,  計測法 ,  モンテカルロシミュレーション ,  大型ヘリカル装置 ,  LHD ,  黒鉛 ,  タイル ,  トリチウム ,  深さ方向 ,  分布 ,  非破壊測定