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J-GLOBAL ID：202002232075234432   Reference number：20A0238046

HgCdTe avalanche photodiode FPA

テルルカドミウム水銀アバランシェの平面デバイス【JST・京大機械翻訳】

Author (10)： Li Hao (中国科学院上海技術物理研究所紅外成像材料与器件重点実験室,上海200083;中国科学院大学,北京100049) ,  Lin Chun (中国科学院上海技術物理研究所紅外成像材料与器件重点実験室,上海200083;上海科技大学,上海201210) ,  Zhou Songmin (中国科学院上海技術物理研究所紅外成像材料与器件重点実験室,上海,200083) ,  Guo Huijun (中国科学院上海技術物理研究所紅外成像材料与器件重点実験室,上海,200083) ,  Wang Xi (中国科学院上海技術物理研究所紅外成像材料与器件重点実験室,上海,200083) ,  Chen Honglei (中国科学院上海技術物理研究所紅外成像材料与器件重点実験室,上海,200083) ,  Wei Yanfeng (中国科学院上海技術物理研究所紅外成像材料与器件重点実験室,上海,200083) ,  Chen Lu (中国科学院上海技術物理研究所紅外成像材料与器件重点実験室,上海,200083) ,  Ding Ruijun (中国科学院上海技術物理研究所紅外成像材料与器件重点実験室,上海,200083) ,  He Li (中国科学院上海技術物理研究所紅外成像材料与器件重点実験室,上海,200083)
Material： Hongwai yu Haomibo Xuebao  (Hongwai Yuhao Mibo Xuebao)
Volume： 38  Issue： 5  Page： 587-590  Publication year： 2019 
JST Material Number： C0174C  ISSN： 1001-9014  CODEN： HHXUEZ  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： China (CHN)  Language： CHINESE (ZH)

Thesaurus term： heterogeneity ,  high sensitivity ,  wavelength ,  infrared radiation ,  bias ,  *avalanche photodiode ,  photodetector
Semi thesaurus term： 過剰雑音 ,  焦点面 ,  カットオフ ,  高利得 , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (1)： Infrared photometry and photodetectors  (BD07032W)

Terms in the title (3)： テルル ,  カドミウム ,  水銀