Art

J-GLOBAL ID：202002234966518161   Reference number：20A0993383

Electronic structure of a silicon layer on Al(111) substrate

Al(111)基板上のシリコン原子層の電子構造

Author (17)： SATO YUSUKE (東大 物性研) ,  FUKAYA YUKI (原子力機構 先端基礎研) ,  CAMEAU M. (ソルボンヌ大) ,  KUNDU A. K. (ISM, CNR) ,  SHIGA DAISUKE (KEK-PF) ,  SHIGA DAISUKE (東北大 多元物質科研) ,  YUKAWA RYU (KEK-PF) ,  HORIBA KOJI (KEK-PF) ,  CHEN C. H. (国立清華大) ,  HUANG A. (国立清華大) ,  JENG H. T. (国立清華大) ,  D'ANGELO M. (ソルボンヌ大) ,  KUMIGASHIRA HIROSHI (KEK-PF) ,  KUMIGASHIRA HIROSHI (東北大 多元物質科研) ,  NIIBE MASAHITO (東大 物性研) ,  NIIBE MASAHITO (兵庫県大 高度研) ,  MATSUDA IWAO (東大 物性研)
Material： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
Volume： 75  Issue： 1  Page： ROMBUNNO.19aB41-6  Publication year： Mar. 23, 2020 
JST Material Number： S0671C  ISSN： 2189-079X  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： Aluminum ,  silicon ,  electronic structure ,  *honeycomb structure ,  *band structure ,  angle resolved spectroscopy ,  Fermi surface ,  *density functional method ,  Dirac cone ,  *silicene ,  *angle-resolved photoemission spectroscopy
Semi thesaurus term： *aluminium ,  silicon ,  *angle-resolved photoemission spectroscopy ,  density functional theory

JST classification (2)： Semiconductor thin films  (BK14040E) ,  Electronic structure of crystalline semiconductors  (BM02060N)

Terms in the title (4)： Al ,  シリコン ,  原子層 ,  電子構造