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J-GLOBAL ID：202002239999813810   Reference number：20A0236218

LED Defect Detection Algorithm with Adaptive Light Brightness

適応光輝度のLED欠陥検出アルゴリズム【JST・京大機械翻訳】

Author (5)： Luo Ruirong (广東工業大学 机電工程学院 電子精密制造技術及装備教育部重点実験室,广州,510006) ,  Gao Jian (广東工業大学 机電工程学院 電子精密制造技術及装備教育部重点実験室,广州,510006) ,  Zheng Zhuoyun (广東工業大学 机電工程学院 電子精密制造技術及装備教育部重点実験室,广州,510006) ,  Zhang Lanyu (广東工業大学 机電工程学院 電子精密制造技術及装備教育部重点実験室,广州,510006) ,  Deng Haixiang (广東工業大学 机電工程学院 電子精密制造技術及装備教育部重点実験室,广州,510006)
Material： Zuhejichuang yu Zidonghua Jiagong Jishu  (Modular Machine Tool & Automatic Manufacturing Technique)
Issue： 11  Page： 46-50  Publication year： 2019 
JST Material Number： C4103A  ISSN： 1001-2265  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： China (CHN)  Language： CHINESE (ZH)

Thesaurus term： gray scale ,  dimensional accuracy ,  *fault detection ,  fluorescence ,  least squares method ,  light source ,  robustness
Semi thesaurus term： 照明変化 ,  測定時間 ,  実験検証 ,  位置補正 ,  *検出アルゴリズム , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (1)： Light emitting devices  (NC03082G)

Terms in the title (5)： 適応 ,  輝度 ,  LED ,  欠陥検出 ,  アルゴリズム