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J-GLOBAL ID：202002242562416491   Reference number：20A2239236

Informatics-Aided Investigation of Carbon Segregation Sites in Silicon Grain Boundaries

インフォマティクスを活用したシリコン粒界中の炭素偏析サイトの探索

Author (5)： NODA YUSUKE (名古屋大 工) ,  YOKOI TATSUYA (名古屋大 工) ,  NAKAMURA ATSUTOMO (名古屋大 工) ,  MATSUNAGA KATSUYUKI (名古屋大 工) ,  MATSUNAGA KATSUYUKI (JFCC)
Material： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
Volume： 67th  Page： ROMBUNNO.15a-A205-10  Publication year： Feb. 28, 2020 
JST Material Number： Y0054B  ISSN： 2436-7613  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *grain boundary ,  recombination(connection) ,  positive hole ,  solar cell ,  point defect ,  impurity ,  *segregation(concentration distribution) ,  mass production ,  *silicon ,  *carbon ,  neural network(biomodel) ,  ingot ,  polycrystal ,  polysilicon
Semi thesaurus term： 第一原理計算 , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (2)： Lattice defects in semiconductors  (BK12040Q) ,  Solar cell  (NC03084O)

Terms in the title (7)： インフォマティクス ,  活用 ,  シリコン ,  粒界 ,  炭素 ,  偏析 ,  探索