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J-GLOBAL ID：202002242670681080   Reference number：20A0566786

SOI技術によるパルス計数型ピクセル検出器の性能評価

Author (7)： HASHIMOTO RYO (KEK 物構研) ,  ARAI YASUO (KEK 素核研) ,  IGARASHI NORIYUKI (KEK 物構研) ,  KUMAI REIJI (KEK 物構研) ,  MIYOSHI TOSHINOBU (KEK 素核研) ,  NISHIMURA RYUTARO (金沢大) ,  KISHIMOTO SHUNJI (KEK 物構研)
Material： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム(Web)  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集(Web))
Volume： 32nd  Page： ROMBUNNO.10P013 (WEB ONLY)  Publication year： Jan. 09, 2019 
JST Material Number： U1891A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *pixel detector ,  performance evaluation ,  SOI structure ,  *X-ray detector ,  wafer
Semi thesaurus term： silicon-on-insulator wafer ,  pixel sensor ,  *二次元X線検出器 ,  KEK-PF

JST classification (1)： Radiation detection and detectors  (AD08020J)

Terms in the title (5)： SOI技術 ,  パルス ,  計数型 ,  ピクセル検出器 ,  性能評価