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J-GLOBAL ID：202002244396672625   Reference number：20A1262824

Analysis of TEER measurement error depending on electrode patterns using finite element analysis

有限要素法による経上皮電気抵抗値と測定誤差の電極パターン依存性の解析

Author (5)： MIYAZAKI TAKASHI (京大) ,  HIRAI YOSHIKAZU (京大) ,  KAMEI KEN'ICHIRO (京大) ,  TSUCHIYA TOSHIYUKI (京大) ,  TABATA OSAMU (京大)
Material： 電気学会全国大会講演論文集(CD-ROM)  (Annual Meeting Record, I.E.E. Japan (CD-ROM))
Volume： 2020  Page： ROMBUNNO.3-130  Publication year： Mar. 01, 2020 
JST Material Number： S0653B  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *electric resistance ,...
Semi thesaurus term： morphology-dependency

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JST classification (1)： Biometry  (EL03020C)

Terms in the title (6)： 有限要素法 ,  経上皮電気抵抗 ,  測定誤差 ,  電極パターン ,  依存性 ,  解析