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J-GLOBAL ID：202002248468160770   Reference number：20A0302452

Study on Characteristics of Two-dimensional Diffuse Reflectance Infrared Spectrum of Silicon Dioxide

シリカの二次元拡散反射赤外スペクトル特性研究【JST・京大機械翻訳】

Author (8)： Wu Yujie (河北一品制薬股fen有限公司,石家庄,052165) ,  Sha Shuli (泰斯汀検測技術服務有限公司,石家庄,050000) ,  Dong Yan (石家庄学院化工学院,石家庄,050035) ,  Hu Mengxuan (石家庄学院化工学院,石家庄,050035) ,  Zhang Zhibo (石家庄学院化工学院,石家庄,050035) ,  Yang Ruobing (石家庄学院化工学院,石家庄,050035) ,  Xiao Xiao (石家庄学院化工学院,石家庄,050035) ,  Yu Hongwei (石家庄学院化工学院,石家庄,050035)
Material： You Ji Gui Cailiao
Volume： 33  Issue： 6  Page： 479-487  Publication year： 2019 
JST Material Number： C3865A  ISSN： 1009-4369  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： China (CHN)  Language： CHINESE (ZH)

Thesaurus term： *two dimension ,  *infrared spectrum ,  perturbation ,  FTIR spectroscopy ,  *diffuse reflection ,  *silicon dioxide ,  infrared spectroscopy ,  three dimension
Semi thesaurus term： 赤外吸収 , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (5)： Spectroscopy and spectrometers in general  (BD07041Q) ,  Photon interaction with atoms  (BH03060F) ,  Properties of molecules in general  (BH05031D) ,  Other chemistry in general  (CA01060X) ,  Properties of ceramics and ceramic whiteware  (YC03030G)

Terms in the title (5)： シリカ ,  拡散反射 ,  赤外 ,  スペクトル特性 ,  研究