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J-GLOBAL ID：202002249410737997   Reference number：20A1486936

Stop-and-Go Gate Drive Minimizing Test Cost to Find Optimum Gate Driving Vectors in Digital Gate Drivers

ディジタルゲートドライバにおける最適ゲート駆動ベクトルを見出すための試験コストを最小化するストップアンドゴーゲート駆動【JST・京大機械翻訳】

Author (8)： Sai Toru (The University of Tokyo,Tokyo,Japan) ,  Miyazaki Koutaro (The University of Tokyo,Tokyo,Japan) ,  Obara Hidemine (Yokohama National University,Kanagawa,Japan) ,  Mannen Tomoyuki (The University of Tokyo,Tokyo,Japan) ,  Wada Keiji (The University of Tokyo,Tokyo,Japan) ,  Omura Ichiro (Kyusyu Institute of Technology,Fukuoka,Japan) ,  Sakurai Takayasu (The University of Tokyo,Tokyo,Japan) ,  Takamiya Makoto (The University of Tokyo,Tokyo,Japan)
Material： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conf Proc)
Volume： 2020  Issue： APEC  Page： 3096-3101  Publication year： 2020 
JST Material Number： W2441A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： An active gate driving is effe...

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Thesaurus term： voltage ,  electric current ,  *vector(mathematics) ,  power transistor ,  digital method ,  overshoot ,  IGBT ,  turn-on ,  switching loss
Semi thesaurus term： ドライバIC ,  負荷電流 ,  性能劣化 ,  オフ状態 , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (3)： Speach processing  (JE05000E) ,  Code theory  (ND02030R) ,  Special-purpose arithmetic and control units  (JC04030Y)

Terms in the title (4)： ゲート ,  ベクトル ,  試験 ,  最小化