Art

J-GLOBAL ID：202002250336080647   Reference number：20A0513620

Quantum valence criticality probed by HAXPES and physical property measurements

硬X線光電子分光と基礎物性測定により明らかにした価数の量子臨界現象

Author (4)： KUGA KENTARO (豊田工大) ,  MATSUMOTO YOSUKE (Max Planck Inst. Solid State Res., Stuttgart, DEU) ,  OKAWA MARIO (東京理大) ,  NAKATSUJI SATORU (東大 大学院)
Material： 放射光  (日本放射光学会誌)
Volume： 33  Issue： 1  Page： 2-9  Publication year： Jan. 31, 2020 
JST Material Number： L0956A  ISSN： 0914-9287  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray photoelectron spectroscopy ,  *critical phenomenon ,  *valence ,  *electronic state ,  critical point ,  electric resistance ,  magnetization ,  specific heat ,  quantum liquid ,  crossover effect ,  *boride ,  aluminum compound ,  ytterbium compound ,  iron compound
Semi thesaurus term： *hard X-ray photoelectron spectroscopy ,  *quantum critical phenomenon ,  valence ,  quantum critical point ,  non-Fermi-liquid ,  *valence fluctuating state

JST classification (2)： Electronic structure of crystalline insulators  (BM02070Y) ,  Electron spectroscopy  (BM09060K)

Reference (24)：

• S. Watanabe A. Tsuruta, K. Miyake and J. Flouquet: J. Phys. Soc. Jpn. 78, 104706 (2009).
• G. G. Simeoni, T. Bryk, F. A. Gorelli, M. Krisch, G. Ruocco, M. Santoro and T. Scopigno: Nat. Phys. 6, 503 (2010).
• S. Watanabe and K. Miyake: Phys. Rev. Lett. 105, 186403 (2010).
• J. Rohler, D. Wohlleben, J. P. Kappler and G. Krill: Phys. Lett. A 103, 220 (1984).
• H. Sato et al.: Phys. Rev. Lett. 93, 246404 (2004).

Terms in the title (4)： 硬X線光電子分光 ,  基礎物性 ,  価数 ,  量子臨界現象