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J-GLOBAL ID：202002255401824241   Reference number：20A1275662

Equatorial aberration of powder diffraction data collected with an Si strip X-ray detector by a continuous-scan integration method

連続走査積分法によるSiストリップX線検出器で収集した粉末回折データの赤道収差【JST・京大機械翻訳】

Author (1)： Ida Takashi (Advanced Ceramics Research Center, Nagoya Institute of Technology, Asahigaoka 10-6-29, Tajimi, Gifu 507-0071, Japan)
Material： Journal of Applied Crystallography  (J Appl Crystallogr)
Volume： 53  Issue： 3  Page： 679-685  Publication year： 2020 
JST Material Number： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： Exact and approximate mathemat...

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Thesaurus term： geometry ,  *aberration ,  *silicon ,  band plate ,  approximation method ,  *equator ,  detector ,  approximate expression ,  *X-ray detector ,  *Powder Diffraction

Author keywords (5)： equatorial aberration ,  powder diffraction ,  Si strip detectors ,  Bragg-Brentano geometry ,  instrumental function

JST classification (1)： X-ray diffraction methods  (BK01020I)

Terms in the title (9)： 走査 ,  積分法 ,  Si ,  ストリップ ,  X線検出器 ,  収集 ,  粉末回折 ,  赤道 ,  収差