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J-GLOBAL ID：202002256700916781   Reference number：20A0517769

Measurement of defect-induced electrical resistivity change of tungsten wire at cryogenic temperature using high-energy proton irradiation

高エネルギー陽子照射を用いた極低温でのタングステン線の欠陥誘起電気抵抗率変化の測定

Author (9)： IWAMOTO Yosuke (Japan Atomic Energy Agency, Ibaraki, JPN) ,  YOSHIDA Makoto (High Energy Accelerator Res. Organization, Ibaraki, JPN) ,  MATSUDA Hiroki (Japan Atomic Energy Agency, Ibaraki, JPN) ,  MEIGO Shin-ichiro (Japan Atomic Energy Agency, Ibaraki, JPN) ,  SATOH Daiki (Japan Atomic Energy Agency, Ibaraki, JPN) ,  YASHIMA Hiroshi (Kyoto Univ., Osaka, JPN) ,  YABUUCHI Atsushi (Kyoto Univ., Osaka, JPN) ,  KINOMURA Atsushi (Kyoto Univ., Osaka, JPN) ,  SHIMA Tatsushi (Osaka Univ., Osaka, JPN)
Material： JPS Conference Proceedings (Web)
Volume： 28  Page： ROMBUNNO.061003 (WEB ONLY)  Publication year： Feb. 06, 2020 
JST Material Number： U1201A  ISSN： 2435-3892  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *proton irradiation ,  *tungsten ,  defect ,  *electrical resistivity ,  damage and injury ,  refrigerator ,  particle
Semi thesaurus term： GM refrigerator ,  secondary particle

JST classification (2)： Interactions with other particles  (BK16090V) ,  Irradiational changes of metals  (BK16122N)

Terms in the title (7)： 高エネルギー ,  陽子照射 ,  極低温 ,  タングステン ,  欠陥 ,  誘起 ,  電気抵抗率