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J-GLOBAL ID：202002265485393101   Reference number：20A0509226

Effect of Argon-Purged Cooling on Generating Residual Stress in Oxide Scale Formed on Si-Containing Steels Examined by In Situ X-ray Diffraction and Finite Element Analysis

その場X線回折と有限要素解析により調べたSi含有鋼上に形成された酸化物スケールにおける残留応力の発生に及ぼすアルゴンパージ冷却の影響

Author (8)： Sasaki Koji (Applied Physics Research Laboratory, Kobe Steel, Ltd.) ,  Hayashi Kazushi (Applied Physics Research Laboratory, Kobe Steel, Ltd.) ,  Takeda Mikako (Materials Research Laboratory, Kobe Steel, Ltd.) ,  Nakakubo Shohei (Materials Research Laboratory, Kobe Steel, Ltd.) ,  Yamada Yohei (Materials Research Laboratory, Kobe Steel, Ltd.) ,  Kitahara Amane (Kobelco Research Institute, Inc.) ,  Wada Risei (Kobelco Research Institute, Inc.) ,  Saeki Isao (Muroran Institute of Technology)
Material： Materials Transactions  (Mater Trans)
Volume： 61  Issue： 1  Page： 136-141(J-STAGE)  Publication year： 2020 
JST Material Number： G0668A  ISSN： 1345-9678  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： X-Ray Diffraction ,  numerical analysis ,  *residual stress ,  *scale (corrosion) ,  oxide film ,  *alloy steel ,  silicon containing alloy ,  Argon ,  ferrous oxide ,  steel plate ,  thermal stress ,  high temperature oxidation ,  silicate ,  iron compound ,  cooling ,  hot rolling ,  Finite Element Analysis ,  Ferrosoferric Oxide ,  conversion coating film ,  Corrosion ,  high temperature corrosion ,  oxidation corrosion
Semi thesaurus term： oxide scale ,  Ferrosoferric Oxide

Author keywords (10)： high-temperature oxidation ,  residual stress ,  thermal stress ,  in situ X-ray diffraction ,  finite element method ,  silicon-containing steel ,  FeO ,  Fe₃O₄ ,  Fe₂O₃ ,  Fe₂SiO₄

JST classification (1)： Rolling techniques  (WC06030Z)

Reference (11)：

• 1) T. Sheppard and W.M. Steen: J. Iron Steel Inst. 208 (1970) 797-805.
• 2) F. Matsuno: Tetsu-to-Hagané 65 (1979) 599-607.
• 3) C.W. Tuck and J. Barlow: Iron and Steel 45 (1972) 31-38.
• 4) Y. Yamada, M. Takeda and S. Nakakubo: J. Japan Inst. Met. Mater. 81 (2017) 206-210.
• 5) H. Kushida, Y. Maeda and H. Ishikawa: Tetsu-to-Hagané 98 (2012) 593-600.

Terms in the title (7)： X線回折 ,  有限要素解析 ,  Si ,  酸化物スケール ,  残留応力 ,  アルゴン ,  パージ