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J-GLOBAL ID：202002267264086930   Reference number：20A0679402

The Leading Criterion for Defects and Failures in Multi-Chip Parallel Package IGBTs

マルチコア並列パッケージIGBT欠陥と故障リード判定基準【JST・京大機械翻訳】

Author (4)： Huang Xianjin (北京交通大学電气工程学院 北京 100044) ,  Ling Chao (北京交通大学電气工程学院 北京 100044) ,  Sun Hu (北京交通大学電气工程学院 北京 100044) ,  You Xiaojie (北京交通大学電气工程学院 北京 100044)
Material： Diangong Jishu Xuebao  (Transactions of China Electrotechnical Society)
Volume： 34  Issue： z2  Page： 518-527  Publication year： 2019 
JST Material Number： C2502A  ISSN： 1000-6753  CODEN： DIJXE5  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： China (CHN)  Language： CHINESE (ZH)

Thesaurus term： parameter estimation ,  least squares method ,  equivalent circuit ,  electric current ,  criterion ,  aluminum ,  effectiveness ,  fracture(structural geology) ,  circuit constant ,  *failure ,  inductance ,  electrical property ,  *IGBT ,  voltage ,  reliability(property)

JST classification (1)： Power converters  (NB08030B)

Terms in the title (7)： マルチコア ,  パッケージ ,  IGBT ,  欠陥 ,  故障 ,  リード ,  判定基準