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J-GLOBAL ID：202002267380213500   Reference number：20A2610681

YSZ(111)基板上でのYbFe2O4//Fe3O4積層膜の作製と結晶成長評価およびX線光電子分光による組成比分析

Author (4)： TERAJI TAKEHIRO (日本大 理工) ,  HIRAOKA KYOYA (日本大 理工) ,  OKAMOTO TAKUYA (日本大 理工) ,  IWATA NOBUYUKI (日本大 理工)
Material： 電子情報通信学会技術研究報告(Web)  (IEICE Technical Report (Web))
Volume： 120  Issue： 217(CPM2020 11-21)  Page： 35-37 (WEB ONLY)  Publication year： Oct. 22, 2020 
JST Material Number： U2030A  ISSN： 2432-6380  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： ferroelectrics ,  ytterbium oxide ,  iron oxide ,  multilayer film ,  *thin film ,  oxide ,  *crystal growth ,  *thin film growth ,  X-ray photoelectron spectroscopy ,  chemical composition ,  ceramics ,  yttrium oxide ,  zirconium oxide ,  substrate(plate) ,  *pulsed laser deposition
Semi thesaurus term： YSZ (ceramic)

JST classification (3)： Oxide thin films  (BK14050P) ,  Techniques and equipment of thin film deposition  (BK14020I) ,  Crystal growth of oxides  (BK13050I)

Reference (11)：

• N. Ikeda et al., J. Phys. :Condens. Matter 27 (2015) 053201.
• N. Ikeda et al., Nature 436 1136 (2005).
• H.X. Yang, et al., Solid State Commun. 150 (2010) 1467.
• Y. Zhang, et al., Phys. Rev. Lett. 98 (2007) 247602.
• A. Ruff. et al., Eur. Phys. J. B 85 (2012) 290.

Terms in the title (8)： YSZ ,  積層膜 ,  作製 ,  結晶成長 ,  評価 ,  X線光電子分光 ,  組成比 ,  分析