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J-GLOBAL ID：202002271680826990   Reference number：20A0452778

Orientation mapping with Kikuchi patterns generated from a focused STEM probe and indexing with commercially available EDAX software

集束STEMプローブから発生したKikuchiパターンによる方位マッピングと市販のEDAXソフトウェアによる索引付け【JST・京大機械翻訳】

Author (6)： Burton George L. (Colorado School of Mines, 1500 Illinois Street, Golden, CO 80401, USA) ,  Wright Stuart (EDAX, 392 East 12300 South, Suite H, Draper, UT 84020, USA) ,  Stokes Adam (Colorado School of Mines, 1500 Illinois Street, Golden, CO 80401, USA) ,  Diercks David R. (Colorado School of Mines, 1500 Illinois Street, Golden, CO 80401, USA) ,  Clarke Amy (Colorado School of Mines, 1500 Illinois Street, Golden, CO 80401, USA) ,  Gorman Brian P. (Colorado School of Mines, 1500 Illinois Street, Golden, CO 80401, USA)
Material： Ultramicroscopy
Volume： 209  Page： Null  Publication year： 2020 
JST Material Number： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： Relating a crystal’s microscop...

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Thesaurus term： carbon ,  transmission electron microscope ,  electron microscopy ,  scanning electron microscope ,  robustness ,  algorithm ,  *focusing ,  crystal orientation ,  phase(topology) ,  *software ,  probe ,  *scanning transmisson electron microscope ,  hardware ,  image processing ,  temper steel ,  diffraction

Author keywords (4)： Electron diffraction ,  Orientation imaging ,  Transmission electron microscope ,  Misorientation

JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (8)： 集束 ,  STEM ,  プローブ ,  Kikuchiパターン ,  方位 ,  マッピング ,  ソフトウェア ,  索引付け