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J-GLOBAL ID：202002271841396328   Reference number：20A1531854

Application of machine learning techniques to electron microscopic/spectroscopic image data analysis

機械学習技術の電子顕微鏡/分光画像データ解析への応用

Author (4)： MUTO Hunsuke (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  SHIGA Motoki (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  SHIGA Motoki (JST-PRESTO, Saitama, JPN) ,  SHIGA Motoki (RIKEN, Tokyo, JPN)
Material： Microscopy
Volume： 69  Issue： 2  Page： 110-122  Publication year： Apr. 2020 
JST Material Number： W1384A  ISSN： 2050-5698  Document type： Article
Article type： 文献レビュー  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *Machine Learning ,  *scanning transmisson electron microscope ,  *spectral image ,  materials science ,  Information Science ,  statistical analysis ,  factorization ,  electron energy loss spectroscopy ,  energy dispersive X-ray spectrometry ,  decomposition ,  tensor decomposition ,  non-negative matrix factorization ,  cultural science
Semi thesaurus term： *spectral image ,  informatics ,  statistical treatment ,  nonnegative matrix factorization

JST classification (3)： Artificial intelligence  (JE08000Z) ,  Electron and ion microscopes  (BD02050B) ,  Other phsical analysis  (CC03014E)

Terms in the title (5)： 機械学習技術 ,  電子顕微鏡 ,  分光画像 ,  データ解析 ,  応用