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J-GLOBAL ID：202002272642701677   Reference number：20A0930681

Construction of SERS Substrates by ZIF-8@Ag Composites and Detection of Trace TNT

ZIF-8@Ag複合材料を用いたSERS基質の構築と痕跡量のTNTの検出【JST・京大機械翻訳】

Author (7)： Liu Yi (西南科技大学国防科技学院,四川 綿陽 621010;中国工程物理研究院化工材料研究所,四川 綿陽 621999) ,  Yu Shuwen (中国工程物理研究院化工材料研究所,四川 綿陽,621999) ,  He Xuan (中国工程物理研究院化工材料研究所,四川 綿陽,621999) ,  Huang Shiliang (中国工程物理研究院化工材料研究所,四川 綿陽,621999) ,  Liu Yu (中国工程物理研究院化工材料研究所,四川 綿陽,621999) ,  Li Xianyin (西南科技大学国防科技学院,四川 綿陽,621010) ,  Wang Dunju (西南科技大学国防科技学院,四川 綿陽,621010)
Material： Hanneng Cailiao
Volume： 28  Issue： 2  Page： 164-169  Publication year： 2020 
JST Material Number： C2690A  ISSN： 1006-9941  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： China (CHN)  Language： CHINESE (ZH)

Thesaurus term： X-ray diffraction ,  electron microscopy ,  composite material ,  probe ,  basis ,  photoreduction ,  *substrate(biochemistry) ,  characterization ,  ladder ,  surface enhanced Raman spectroscopy ,  transmission electron microscope ,  self assembly
Semi thesaurus term： 電界放出型走査電子顕微鏡 ,  粉末X線回折 ,  銀ナノ粒子 ,  *ZIF-8 , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (3)： Spectroanalysis  (CC03012W) ,  Optical spectra and optical scattering in general  (BM08050S) ,  Inorganic compounds and elements in general  (CD01010D)

Terms in the title (5)： 複合材料 ,  基質 ,  構築 ,  痕跡 ,  TNT