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J-GLOBAL ID：202002276450336155   Reference number：20A1088082

Crystalline Characterization of TlBr Semiconductor Detectors Using Wavelength-resolved Neutron Imaging

波長分解中性子イメージングを用いたTlBr半導体検出器の結晶特性評価

Author (6)： WATANABE Kenichi (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  MATSUMOTO Kio (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  UNITANI Akira (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  HITOMI Keitaro (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  NOGAMI Mitsuhiro (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  KOCKELMANN Winfried (Rutherford Appleton Lab., Harwell, GBR)
Material： Sensors and Materials  (Sens Mater)
Volume： 32  Issue： 4 (2)  Page： 1435-1443  Publication year： 2020 
JST Material Number： L0338A  ISSN： 0914-4935  CODEN： SENMER  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *neutron radiography ,  *thallium compound ,  *bromide ,  *semiconductor detector ,  energy resolving power ,  gamma-ray detector ,  modification ,  quality ,  neutron diffraction ,  crystal orientation ,  crystal grain ,  carrier mobility ,  lifetime
Semi thesaurus term： *neutron imaging ,  *thallium bromide ,  enlargement ,  crystal quality ,  electron mobility ,  electron lifetime

JST classification (2)： Radiation detection and detectors  (AD08020J) ,  Crystal structure of other inorganic compounds  (BK07030J)

Reference (14)：

• K. Hitomi, T. Murayama, T. Shoji, T. Suehiro, and Y. Hiratate: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 428. (1999) 372.
• K. Hitomi, T. Shoji, and K. Ishii: J Cryst. Growth 379 (2013) 93.
• K. Hitomi, T. Onodera, S-Y. Kim, T. Shoji, and K. Ishii: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 747 (2014) 7.
• K. Hitomi, T. Onodera, and T. Shoji: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 579 (2007) 153.
• K. Hitomi, T. Tada, T. Onodera, S-Y. Kim, Y. Xu, T. Shoji, and K. Ishii: IEEE Trans. Nucl. Sci. 60 (2013) 1156.

Terms in the title (6)： 波長 ,  分解 ,  中性子イメージング ,  半導体検出器 ,  結晶 ,  特性評価