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J-GLOBAL ID：202002283649382686   Reference number：20A2238982

In-situ composition dependence analysis of L1₀-Fe_xNi_1-x using auger electron spectroscopy

オージェ電子分光装置を用いたL1₀-Fe_xNi_1-xのin-situ組成依存性解析

Author (10)： ARAMAKI TOMOHAYA (東京理大 基礎工) ,  KUMAGAI TAKUYA (東京理大 基礎工) ,  SAITO HYUGA (東京理大 基礎工) ,  NAKAO TAICHI (東京理大 基礎工) ,  MIYASHITA TAKUYA (東京理大 基礎工) ,  ITO HISAAKI (東京理大 基礎工) ,  MIYAMACHI TOSHIO (東大 物性研) ,  KOMORI FUMIO (東大 物性研) ,  KOGANEZAWA TOMOYUKI (JASRI) ,  KOTSUGI MASATO (東京理大 基礎工)
Material： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
Volume： 67th  Page： ROMBUNNO.14p-PA1-7  Publication year： Feb. 28, 2020 
JST Material Number： Y0054B  ISSN： 2436-7613  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： Auger spectrum ,  X-ray diffraction ,  crystal structure ,  magnetic anisotropy ,  magnetometer ,  superconductivity ,  thin film ,  *iron ,  *nickel ,  magnetic material ,  X-ray diffractometry ,  multilayer film ,  thin film growth ,  *Auger electron spectroscopy ,  interleave ,  pulsed laser deposition
Semi thesaurus term： 薄膜形成 , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (2)： Electronic recording,magnetic recording,optical recording  (NC06020F) ,  Magnetic properties  (WB02020J)

Terms in the title (3)： オージェ電子分光 ,  組成依存性 ,  解析