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J-GLOBAL ID：202002284843801158   Reference number：20A1853305

Time-resolved measurement scheme and the application to synchrotron X-ray and XFEL experiments-Introduction to the special issue-

時間軸でみる高輝度放射光/X線自由電子レーザー利用研究 時間分解測定法とその放射光X線・XFEL利用実験への適用~本企画のイントロダクション~

Author (1)： TANAKA YOSHIHITO (兵庫県大 大学院物質理学研究科)
Material： 放射光  (日本放射光学会誌)
Volume： 33  Issue： 4  Page： 243-247  Publication year： Jul. 31, 2020 
JST Material Number： L0956A  ISSN： 0914-9287  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray free electron laser ,  time resolved spectroscopy ,  time resolution ,  energy resolving power ,  *X-ray photoelectron spectroscopy ,  XAFS ,  *hard X-ray photoelectron spectroscopy
Semi thesaurus term： 放射光X線 ,  *HAXPES

JST classification (2)： Other lasers  (BD04090H) ,  X-ray instruments and techniques  (BA02060D)

Reference (11)：

• J. R. Helliwell, R. M. Rentzepis ed., Time-resolved diffrac-tion, Oxford Scientific Publications (1997).
• 稲田康宏,丹羽尉博,野村昌治:放射光 20,242(2007).
• M.Oura et al.:Synchrotron Rad. News 31,36(2018).
• 富樫格,田中義人,足立伸一:放射光 32,257(2019).
• 富樫格,田中義人,足立伸一:放射光 32,314(2019).

Terms in the title (9)： 時間軸 ,  高輝度 ,  放射光 ,  X線自由電子レーザー ,  研究 ,  X線 ,  XFEL ,  実験 ,  企画