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J-GLOBAL ID：202003001716661881

化学・物理現象の測定装置及びその製造方法

Inventor： 澤田 和明 ,  岩田 達哉 ,  新名 直也
Applicant, Patent owner： 国立大学法人豊橋技術科学大学
Agent (2)： 小西 富雅 ,  中村 知公
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2019561679
Patent number：6709423
Application date： Dec. 22, 2018
Claim (excerpt)：

【請求項1】 表面電位に応じて電位井戸の深さを変化させるセンシング部と、該センシング部を被覆する第1の感応膜と、該センシング部の電位井戸の深さに応じた電気信号を出力する検出領域と、を備えてなる化学・物理現象の測定ユニットのアレイと、 該アレイを構成する測定ユニットの複数を被覆する導電性高分子からなる第2の感応膜と、 該第2の感応膜に接する定電位部と、を備える化学・物理現象の測定装置。

IPC (3)：

G01N 27/00 ( 200 6.01) ,  G01N 27/414 ( 200 6.01) ,  G01N 27/416 ( 200 6.01)

FI (7)：

G01N 27/00 J ,  G01N 27/414 301 R ,  G01N 27/414 301 V ,  G01N 27/414 301 W ,  G01N 27/414 301 X ,  G01N 27/414 301 Z ,  G01N 27/416 353