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J-GLOBAL ID:202003005539843244

放射線画像撮影システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 特許業務法人光陽国際特許事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2018162273
Publication number (International publication number):2020031961
Application date: Aug. 31, 2018
Publication date: Mar. 05, 2020
Summary:
【課題】ビニング数を異ならせて複数の放射線画像を取得した場合の、オフセット補正によるアーチファクトの発生を抑制する。【解決手段】放射線画像撮影装置1の制御手段22は、ビニング数の異なる複数の放射線画像を連続的に撮影する場合に、複数の放射線画像の取得時と画像取得前リセット時のビニング数及び画像取得時のビニング数を一致させて各放射線画像に対応する複数のオフセット画像を取得して、各放射線画像にオフセット補正処理を施す。【選択図】図8
Claim (excerpt):
二次元状に配列された複数の放射線検出素子と、 前記放射線検出素子に電荷の蓄積及び放出を行わせ、放出された電荷を読み出すことで、画像の取得を行う画像取得回路と、 を備える放射線画像撮影システムであって、 前記画像取得回路を制御して、少なくともビニング数を異ならせて複数の放射線画像を連続的に取得する放射線画像取得手段と、 前記画像取得回路を制御して、画像取得前の前記放射線検出素子のリセット時のビニング数及び画像取得時のビニング数を一連の前記複数の放射線画像の取得時のものと一致させて前記複数の放射線画像のそれぞれに対応する前記複数のオフセット画像を取得するオフセット画像取得手段と、 前記複数の放射線画像のそれぞれに対応する前記オフセット画像を用いて前記複数の放射線画像にオフセット補正を施す補正手段と、 を備える放射線画像撮影システム。
IPC (1):
A61B 6/00
FI (3):
A61B6/00 350M ,  A61B6/00 300S ,  A61B6/00 333
F-Term (9):
4C093AA01 ,  4C093CA13 ,  4C093EA07 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FC01 ,  4C093FC19 ,  4C093FD11
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)

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