Pat
J-GLOBAL ID:202003008320625240

イメージングシステムおよび校正方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 特許業務法人虎ノ門知的財産事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2019223894
Publication number (International publication number):2020038231
Application date: Dec. 11, 2019
Publication date: Mar. 12, 2020
Summary:
【課題】効果的なタイミング校正を可能とする。【解決手段】実施形態のイメージングシステムは、ポジトロン放出放射性同位元素線源と、対消滅ターゲットと、検出器要素と、計算部と、校正部とを含む。対消滅ターゲットは、円筒形状であり、ポジトロン放出放射性同位元素線源から放出されるポジトロンと対消滅を起こす。検出器要素は、対消滅の結果生じる同時計数事象の対を検出する。計算部は、検出された同時計数事象の対に基づき検出器要素用の校正時間オフセットを計算する。校正部は、計算された校正時間オフセットで検出器要素を校正する。ポジトロン放出放射性同位元素線源は対消滅ターゲットの底面に設けられる。【選択図】図11
Claim (excerpt):
ポジトロン放出放射性同位元素線源と、 前記ポジトロン放出放射性同位元素線源から放出されるポジトロンと対消滅を起こす円筒形状の対消滅ターゲットと、 前記対消滅の結果生じる同時計数事象の対を検出する検出器要素と、 前記検出された同時計数事象の対に基づき前記検出器要素用の校正時間オフセットを計算する計算部と、 前記計算された校正時間オフセットで前記検出器要素を校正する校正部とを含み、 前記ポジトロン放出放射性同位元素線源は前記対消滅ターゲットの底面に設けられる、 イメージングシステム。
IPC (1):
G01T 1/161
FI (2):
G01T1/161 A ,  G01T1/161 Z
F-Term (11):
4C188EE02 ,  4C188FF07 ,  4C188GG18 ,  4C188JJ02 ,  4C188JJ27 ,  4C188KK09 ,  4C188KK15 ,  4C188KK35 ,  4C188LL05 ,  4C188LL18 ,  4C188LL28
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
  • 放射線断層撮影装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2010-015269   Applicant:株式会社島津製作所
  • 陽電子放出放射性同位元素放射線源
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2008-261033   Applicant:独立行政法人放射線医学総合研究所, 学校法人北里研究所, 社団法人日本アイソトープ協会
  • ガンマ線源を利用した可視化装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2005-285073   Applicant:独立行政法人日本原子力研究開発機構
Show all
Cited by examiner (5)
  • 放射線断層撮影装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2010-015269   Applicant:株式会社島津製作所
  • 陽電子放出放射性同位元素放射線源
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2008-261033   Applicant:独立行政法人放射線医学総合研究所, 学校法人北里研究所, 社団法人日本アイソトープ協会
  • ガンマ線源を利用した可視化装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2005-285073   Applicant:独立行政法人日本原子力研究開発機構
Show all

Return to Previous Page