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J-GLOBAL ID：202003011010571311

がいし類の汚損の計測方法、計測装置、及び計測プログラム

Inventor： 藤井 隆 ,  屋地 康平 ,  江藤 修三 ,  元木 浩平
Applicant, Patent owner： 一般財団法人電力中央研究所
Agent (1)： 村瀬 一美
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2016090859
Publication number (International publication number)：2017198593
Patent number：6760694
Application date： Apr. 28, 2016
Publication date： Nov. 02, 2017
Claim (excerpt)：

【請求項1】 がいし類の表面にパルスレーザー光が照射されて受光される発光スペクトルが用いられて発光波長が818.33 nm のNaの発光強度と819.48 nm のNaの発光強度とのうちの少なくとも一方が計算され、前記発光波長の発光強度と塩分付着密度との検量線が用いられて前記がいし類の塩分付着密度が求められ、 前記塩分付着密度が所定の低密度閾値未満であるときに、さらに、発光波長が589.00 nm のNaの発光強度と589.59 nm のNaの発光強度とのうちの少なくとも一方が計算され、前記発光波長の発光強度と塩分付着密度との検量線が用いられて塩分付着密度が求められ、それぞれに得られた複数の塩分付着密度の値の最小値から最大値までの範囲として、若しくは平均値として、あるいはいずれか一方の値を最終的な塩分付着密度として求めることを特徴とするがいし類の汚損の計測方法。

IPC (2)：

G01N 21/63 ( 200 6.01) ,  G01R 31/12 ( 202 0.01)

FI (2)：

G01N 21/63 A ,  G01R 31/12 C

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 前照兼赤外暗視装置および前照兼赤外暗視システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-326941   Applicant：ハリソン東芝ライティング株式会社
• メタルハライドランプおよびメタルハライドランプ点灯装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-424941   Applicant：東芝ライテック株式会社, ハリソン東芝ライティング株式会社
• 金属表面付着成分の濃度計測方法および装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2011-144134   Applicant：財団法人電力中央研究所
• 碍子表面の付着物の付着密度測定方法及び測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2011-148271   Applicant：公益財団法人レーザー技術総合研究所, 関西電力株式会社
• 金属表面付着成分の濃度計測方法および装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2012-116862   Applicant：一般財団法人電力中央研究所

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• レーザーを用いた碍子表面塩分計測