Pat

J-GLOBAL ID：202003015498710957

脅威分析装置、脅威分析方法、及び脅威分析プログラム

Inventor： 三科 雄介 ,  寳木 和夫 ,  田口 研治 ,  梅澤 克之
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人産業技術総合研究所
Agent (2)： 稲葉 良幸 ,  大貫 敏史
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2018037907
Publication number (International publication number)：WO2019093059
Application date： Oct. 11, 2018
Publication date： May. 16, 2019
Summary：

概念設計段階の対象システムに対して脅威分析を行うことのできる脅威分析装置、脅威分析方法、及び脅威分析プログラムを提供する。対象システムに含まれる機能アプリケーションについて、システムの仕様を規定するためのシステム仕様情報を用いてモデル化した機能アプリケーションモデル情報500〜900を取得する第1取得部150と、事例システムに含まれる脆弱性についてシステム仕様情報を用いてモデル化した脆弱性モデル情報1100〜1300を取得する第2取得部160と、機能アプリケーションモデル情報500〜900と脆弱性モデル情報1100〜1300とに基づいて対象システムの脅威分析を行う実行部180と、を備える。

Claim (excerpt)：

対象システムに含まれる機能アプリケーションについて、システムの仕様を規定するためのシステム仕様情報を用いてモデル化した機能アプリケーションモデル情報を取得する第1取得部と、 事例システムに含まれる脆弱性について前記システム仕様情報を用いてモデル化した脆弱性モデル情報を取得する第2取得部と、 前記機能アプリケーションモデル情報と前記脆弱性モデル情報とに基づいて前記対象システムの脅威分析を行う実行部と、を備える、 脅威分析装置。

IPC (2)：

G06F 21/57 ,  G06Q 50/10

FI (2)：

G06F21/57 370 ,  G06Q50/10

F-Term (1)：

5L049CC11