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J-GLOBAL ID：202102237543666994   Reference number：21A0038609

Electrical Conductivity Studies in Sol-Gel-Derived Li-Doped NiO Epitaxial Thin Films

ゾル-ゲル誘導LiドープNiOエピタキシャル薄膜における電気伝導率研究【JST・京大機械翻訳】

Author (2)： Kokubun Yoshihiro (Department of Information Technology and Electronics, Faculty of Science and Engineering, Ishinomaki Senshu University, Ishinomaki, Miyagi, 986-8580, Japan) ,  Nakagomi Shinji (Department of Information Technology and Electronics, Faculty of Science and Engineering, Ishinomaki Senshu University, Ishinomaki, Miyagi, 986-8580, Japan)
Material： Physica Status Solidi. B. Basic Solid State Physics  (Phys Status Solidi B Basic Solid State Phys)
Volume： 257  Issue： 12  Page： e2000330  Publication year： 2020 
JST Material Number： C0599A  ISSN： 0370-1972  CODEN： PSSBBD  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： The electrical properties of t...

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Thesaurus term： X-Ray Diffraction ,  acceptor ,  ion ,  *epitaxy ,  *electrical conductivity ,  *thin film ,  polaron ,  *Lithium ,  temperature dependence ,  *doping ,  cubic system ,  hopping conduction ,  *sol-gel process ,  *conductivity
Semi thesaurus term： 小さなポーラロン , 【Automatic Indexing@JST】

Author keywords (5)： conduction mechanisms ,  electrical conductivity ,  hopping conduction ,  nickel oxide ,  polarons

JST classification (2)： Electric conduction in crystalline semiconductors  (BM03043X) ,  Oxide thin films  (BK14050P)

Terms in the title (9)： ゾル-ゲル ,  誘導 ,  Li ,  ドープ ,  NiO ,  エピタキシャル ,  薄膜 ,  電気伝導率 ,  研究