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J-GLOBAL ID：202102250287079661   Reference number：21A0228480

On Evaluation for Aging-Tolerant Ring Oscillators with Accelerated Life Test And Its Application to A Digital Sensor

加速寿命試験による耐老化性リング発振器の評価とデジタルセンサへの応用【JST・京大機械翻訳】

Author (4)： Gondo Masayuki (Kyushu Institute of Technology,Fukuoka,Japan,820-8502) ,  Miyake Yousuke (Kyushu Institute of Technology,Fukuoka,Japan,820-8502) ,  Kato Takaaki (Kyushu Institute of Technology,Fukuoka,Japan,820-8502) ,  Kajihara Seiji (Kyushu Institute of Technology,Fukuoka,Japan,820-8502)
Material： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conf Proc)
Volume： 2020  Issue： ATS  Page： 1-6  Publication year： 2020 
JST Material Number： W2441A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： An aging-tolerant ring oscilla...

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Thesaurus term： aging (phenomenon) ,  voltage ,  measurement error ,  measurement accuracy ,  digital method ,  sensor ,  effectiveness ,  *ring oscillator ,  complementary metal oxide semiconductor ,  voltage sensor ,  accelerated aging test
Semi thesaurus term： 加速劣化試験 , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (1)： Graphic and image processing in general  (JE04010I)

Terms in the title (6)： 加速寿命試験 ,  耐老化性 ,  リング発振器 ,  評価 ,  デジタル ,  応用