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J-GLOBAL ID：202103001604934947

脳機能計測装置と脳機能計測方法

Inventor： 山田 亨
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人産業技術総合研究所
Agent (1)： 特許業務法人平木国際特許事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2019512420
Patent number：6784976
Application date： Mar. 28, 2018
Claim (excerpt)：

【請求項1】 被検体の脳に光を照射する第一の照射手段と、 前記第一の照射手段に隣接して配設され、前記第一の照射手段から照射された光のうち前記脳で反射された光を検出する第一の検出手段と、 前記第一の検出手段に隣接して配設され、前記被検体の脳に光を照射する第二の照射手段と、 前記第二の照射手段に隣接して配設され、前記第二の照射手段から照射された光のうち前記脳で反射された光を検出する第二の検出手段と、 前記第一の検出手段と前記第二の照射手段との間の計測点につき計測される光量が、前記第一の照射手段と前記第一の検出手段との間の計測点につき観測された観測値になるよう、前記第二の照射手段により照射される光量につき第一の調節を行うと共に、前記第二の照射手段と前記第二の検出手段との間の計測点につき計測される光量が前記観測値になるよう、前記第二の検出手段により検出される光量につき第二の調節を行う制御手段とを備えた脳機能計測装置。

IPC (1)：

A61B 10/00 ( 200 6.01)

FI (2)：

A61B 10/00 E ,  A61B 10/00 ZDM