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J-GLOBAL ID：202103002465606456

電磁界解析装置、方法及びプログラム

Inventor： 亀有 昭久 ,  進藤 裕司 ,  松尾 哲司 ,  菅原 賢悟
Applicant, Patent owner： サイエンス ソリューションズ株式会社
Agent (8)： 千葉 剛宏 ,  宮寺 利幸 ,  千馬 隆之 ,  大内 秀治 ,  仲宗根 康晴 ,  坂井 志郎 ,  関口 亨祐 ,  山野 明
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017017009
Publication number (International publication number)：2018124831
Patent number：6827826
Application date： Feb. 01, 2017
Publication date： Aug. 09, 2018
Claim (excerpt)：

【請求項1】 複数の段が直列又は並列に接続されてなる等価回路を用いた回路シミュレーションによって、解析対象領域の電磁界解析を行う電磁界解析装置であって、 前記解析対象領域の一部又は全体である注目領域にわたる電界分布及び磁界分布と、前記等価回路の電気的挙動との対応関係を示す等価モデルに基づいて、前記複数の段の回路特性を示す回路定数を算出する回路定数算出部を備え、 前記回路定数算出部は、前記等価モデルに基づいてそれぞれ定式化された、前記電界分布の直交基底である複数の電界基底分布同士の関係を示す第1関係式と、前記磁界分布の直交基底である複数の磁界基底分布同士の関係を示す第2関係式とを連成して解くことで前記回路定数を算出することを特徴とする電磁界解析装置。

IPC (2)：

G06F 30/20 ( 202 0.01) ,  G06F 30/367 ( 202 0.01)

FI (2)：

G06F 17/50 612 A ,  G06F 17/50 662 G