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J-GLOBAL ID：202103006504083003
微粒子検出装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
特許業務法人アイテック国際特許事務所
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2019037583
Publication number (International publication number)：WO2020067149
Application date： Sep. 25, 2019
Publication date： Apr. 02, 2020
Summary：
フローセルに流れる微粒子を検出する微粒子検出装置は、レーザービームを照射するレーザー照射器と、レーザービームを集光スポット近傍でガウシアンビームに近似できる程度に調製する光学系と、集光スポットより後方に配置されて光強度を検出する光強度検出器と、光強度検出器により検出された光強度に基づいて微粒子の判別を行なう制御装置と、を備える。光強度検出器は、集光スポットの中心を原点とし、原点を通ってフローセルにおける微粒子の流れ方向に平行な軸をx軸とし、原点を通ってx軸に垂直な軸をy軸としたときに、y軸からの仰角が15度以上75度以下の所定角の第1直線とこの第1直線にx軸対称な第2直線とにより区分される4つの検出器により構成する。
Claim (excerpt)：
フローセルに流れる微粒子を検出する微粒子検出装置であって、
レーザービームを照射するレーザー照射器と、
レーザービームを集光スポット近傍でガウシアンビームに近似できる程度に調製する光学系と、
前記集光スポットより後方に配置されて光強度を検出する光強度検出器と、
前記光強度検出器により検出された光強度に基づいて微粒子の判別を行なう制御装置と、
を備え、
前記光強度検出器は、前記集光スポットの中心を原点とし、原点を通って前記フローセルにおける微粒子の流れ方向に平行な軸をx軸とし、原点を通ってx軸に垂直な軸をy軸としたときに、y軸からの仰角が15度以上75度以下の所定角の第1直線と前記第1直線にx軸対称な第2直線とにより区分される4つの検出器により構成されている、
微粒子検出装置。
IPC (1)：
FI (1)：
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