計測用デバイス及び計測センサ

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (3)：棚井澄雄 , 小林淳一 , 清水雄一郎
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017092710
Publication number (International publication number)：2018189523
Patent number：6928931
Application date： May. 08, 2017
Publication date： Nov. 29, 2018
Claim (excerpt)：

【請求項1】所定の波長の光を透過可能な半導体基板と、前記半導体基板の表面に積層され、前記半導体基板との界面でショットキー障壁を構成し、前記所定の波長の光が照射された際に表面プラズモン共鳴を起こすアンテナ部を有する金属層と、前記金属層の表面に形成され、特定の検出物質と反応可能に構成された反応層と、を備え、前記半導体基板の価電子帯のエネルギー準位と伝導帯のエネルギー準位とのエネルギー差は前記反応層と前記金属層との間で生じる前記表面プラズモン共鳴によって前記金属層の自由電子が励起される励起エネルギーよりも高く、且つ前記励起エネルギーは前記ショットキー障壁のエネルギー高さよりも高いことを特徴とする計測用デバイス。

IPC (2)：

G01N 21/41 ( 200 6.01) , G01N 33/543 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01N 21/41 102 , G01N 33/543 595

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

光検出器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2013-109015 Applicant：オリンパス株式会社, 国立大学法人東京大学, 国立大学法人九州大学
計測装置及び計測方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2015-039803 Applicant：コニカミノルタ株式会社
プラズモン励起センサおよびそれを用いたアッセイ法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2009-106241 Applicant：コニカミノルタホールディングス株式会社

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Cited by examiner (6)

光検出器
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