Pat
J-GLOBAL ID：202103010145399234
ストレス評価装置およびストレス状態の評価方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：
庄司 隆
, 資延 由利子
, 大杉 卓也
, 曽我 亜紀
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017039071
Publication number (International publication number)：2018143320
Patent number：6886686
Application date： Mar. 02, 2017
Publication date： Sep. 20, 2018
Claim (excerpt)：
【請求項1】課題呈示制御部、脳機能計測部およびストレス状態評価部を含むストレス評価装置であって、課題呈示制御部から呈示される特定の画像に対する感情に関連する情報を推測する第一課題と、前記特定の画像と同一もしくは別の特定の画像に対する感情に関連しない情報を推測する第二課題の少なくとも2種の課題遂行時の、対象者の腹外側前頭前野の脳活動信号を脳機能計測部が計測し、該計測値に基づいてストレス状態評価部で演算したストレス状態を提示することを特徴とする、社会能力のストレス脆弱性評価装置。
IPC (3)：
A61B 5/055 ( 200 6.01)
, A61B 5/16 ( 200 6.01)
, A61B 10/00 ( 200 6.01)
A61B 5/055 382
, A61B 5/055 ZDM
, A61B 5/16
, A61B 10/00 E
, A61B 10/00 H
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
Return to Previous Page
