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J-GLOBAL ID：202103011669283949

振動解析システム、振動解析方法及びプログラム

Inventor： 石井 抱 ,  島崎 航平
Applicant, Patent owner： 国立大学法人広島大学
Agent (1)： 森 匡輝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2020062572
Publication number (International publication number)：2021162412
Application date： Mar. 31, 2020
Publication date： Oct. 11, 2021
Summary：

【課題】回転体の回転に伴う振動成分と共振成分とを分離して、共振成分を精度よく検出できる振動解析システム、振動解析方法及びプログラムを提供する。【解決手段】振動解析システムは、解析対象である回転体50の動作状態を表す動作画像Iを取得する画像データ取得部と、動作画像Iに基づいて、回転体50の振動状態を解析する演算部と、を備える。また演算部は、動作画像Iのうち、回転体50の位相が所定の解析位相φNである画像からなる時系列の位相ロックイン画像IφNに基づいて、回転体50の振動状態を解析する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

解析対象である回転体の動作状態を表す動作画像を取得する画像データ取得部と、 前記動作画像に基づいて、前記回転体の振動状態を解析する演算部と、を備え、 前記演算部は、 前記動作画像のうち、前記回転体の位相が所定の解析位相である画像からなる時系列の位相ロックイン画像に基づいて、前記回転体の振動状態を解析する、 振動解析システム。

IPC (2)：

G01H 9/00 ,  G01M 99/00

FI (2)：

G01H9/00 Z ,  G01M99/00 A

F-Term (14)：

2G024AD08 ,  2G024AD09 ,  2G024BA27 ,  2G024CA13 ,  2G024FA06 ,  2G024FA11 ,  2G064AA11 ,  2G064AB01 ,  2G064AB02 ,  2G064BC40 ,  2G064CC41 ,  2G064CC42 ,  2G064CC43 ,  2G064DD02

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 軸振動計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2015-155279   Applicant：株式会社小野測器

Cited by examiner (1)

• 軸振動計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2015-155279   Applicant：株式会社小野測器