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J-GLOBAL ID：202103016649696696

飛行時間測定式質量分析装置および方法

Inventor： 和田 道治 ,  シュリー, ピーター ,  伊藤 由太 ,  ウォルニック, ヘルマン
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人理化学研究所
Agent (5)： 特許業務法人秀和特許事務所 ,  佐貫 伸一 ,  和久田 純一 ,  矢澤 広伸 ,  丹羽 武司
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2018503328
Patent number：6835360
Application date： Feb. 28, 2017
Claim (excerpt)：

【請求項1】 第1のイオントラップに蓄積されたイオンを加速して飛行管に導入し飛行時間を測定することによって前記イオンの質量を測定する飛行時間測定式質量測定装置であって、 測定対象イオンの供給源から供給された測定対象イオンを蓄積し、前記第1のイオントラップに前記測定対象イオンを導入可能な第2のイオントラップと、 参照用イオンの供給源から供給された参照用イオンを蓄積し、前記第1のイオントラップに前記参照用イオンを導入可能な第3のイオントラップと、 前記飛行管に設けられたイオンミラーの電位を、第1の電位と第2の電位の間で切り替えるための高電圧スイッチと、 を備え、 前記高電圧スイッチは、 前記イオンミラーの電位を指示する制御信号を入力する入力部と、 前記制御信号の立ち上がり時に発光する第1の発光素子と、 前記制御信号がオンの間に発光する第2の発光素子と、 前記第1または第2の発光素子からの発光を検出しているときに第1の電位を前記イオンミラーに印加するように制御する第1のフォトダイオードスイッチ素子と、 前記制御信号の立ち下がり時に発光する第3の発光素子と、 前記制御信号がオフの間に発光する第4の発光素子と、 前記第3または第4の発光素子からの発光を検出しているときに第2の電位を前記イオンミラーに印加するように制御する第2のフォトダイオードスイッチ素子と、 を有する、 飛行時間測定式質量測定装置。

IPC (3)：

H01J 49/40 ( 200 6.01) ,  H01J 49/06 ( 200 6.01) ,  G01N 27/62 ( 202 1.01)

FI (3)：

H01J 49/40 600 ,  H01J 49/06 200 ,  G01N 27/62 E

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• A high-resolution multi-reflection time-of-flight mass spectrograph for precision mass measurements

Cited by examiner (1)

• A high-resolution multi-reflection time-of-flight mass spectrograph for precision mass measurements