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J-GLOBAL ID：202103020609595371

培地の異常検知装置及び異常検知方法

Inventor： 足達 俊吾 ,  茂木 克雄 ,  夏目 徹 ,  都築 拓 ,  小澤 陽介
Applicant, Patent owner： エピストラ株式会社 ,  国立研究開発法人産業技術総合研究所
Agent (1)： 特許業務法人ドライト国際特許事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2021539656
Patent number：6977977
Application date： Jun. 24, 2020
Summary：

【要約】 検査にかかる時間を短縮し、コストを削減して、培地の異常の有無を検知できる培地の異常検知装置及び異常検知方法を提供する。培地の異常検知装置1は、複数個の培地及び少なくとも1個の対象培地のインピーダンスを特性値として測定する測定部10と、複数個の培地の特性値の分布の状態から異常判定の閾値を設定する状態推定部22と、対象培地の特性値と、閾値とから対象培地の異常の有無を判定する異常検知部23とを備えた構成とする。

Claim (excerpt)：

【請求項1】 複数個の培地及び少なくとも1個の対象培地のインピーダンスを特性値として測定する測定部と、 複数個の前記培地の前記特性値の分布の状態から異常判定の閾値を設定する状態推定部と、 前記対象培地の前記特性値と、前記閾値とから前記対象培地の異常の有無を判定する異常検知部と を備える培地の異常検知装置。

IPC (1)：

G01N 27/02 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01N 27/02 D