応力測定用薄膜センサの開発

Study period：2007 - 2007
Organization (1)：
Principal investigator： ( , 工学部, 助手 )
Research overview：

金属薄膜に生ずる再結晶化現象を利用して,機械要素に発生する応力を検出できる測定法を開発する.すなわち,金属薄膜には繰返し応力を受けると成長粒子(再結晶粒)が発生するものもある.この成長粒子の密度や平均粒径は繰返し応力に依存するため,本研究では,これらの関係を調査して構成式を求める.この構成式を用いれば,任意の成長粒子の密度と平均粒径から,機械要素の局所的な領域に作用する繰返し応力が測定できる.

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Research program：＞＞＞＞
Organization with control over the research：

Japan Science and Technology Agency

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