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J-GLOBAL ID:202104001018745780  Research Project code:7700001407

スピン計測 -スピンSPMの開発とスピン制御-

スピン計測 -スピンSPMの開発とスピン制御-
National award number:JPMJCR9538
Study period:1995 - 2000
Organization (1):
Principal investigator: ( , 工学部 )
Research overview:
物質表面のスピン状態を原子分解能で観測する走査プローブ顕微鏡を開発し、これを用いて導電体ならびに絶縁体表面のスピン計測を行います。さらに表面の特性を生かした新物質層の創製をめざし、この評価法を活用します。またこの評価機の開発途上でスピン状態の保存の問題を手掛け、スピンデバイス、スピンメモリーへの糸口を見出します。
Research program:
Parent Research Project: 量子効果等の物理現象
Organization with control over the research:
Japan Science and Technology Agency
Reports :

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