大型・高精度レーザ干渉計システム用直角参照鏡誤差校正システムの開発

Study period：2009 - 2009
Organization (1)：
Principal investigator： ( , 工学部, 教授 )
Research overview：

一般に直角参照鏡を使った二軸のレーザー干渉計によって、二次元ステージの変位が高精度に測定されている。直角参照鏡に形状誤差があると、レーザー干渉計の出力は、二次元ステージの軸の形状誤差と直角参照鏡の形状誤差の複合した信号となる。これらの信号から二種類の誤差をステージの再現性と自己校正テクニックにより分離し、参照鏡の形状誤差を測定することを目的とする。

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Research program：＞＞＞＞
Organization with control over the research：

Japan Science and Technology Agency

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