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J-GLOBAL ID：202104001345241788
Research Project code：20347060
光位相の異方的変化に注目したフィルム表面のキズ検出技術の開発
光位相の異方的変化に注目したフィルム表面のキズ検出技術の開発
National award number：JPMJTM20GH
Study period：2020 - 2021
Organization (1)：
Principal investigator：
(
, ポストLEDフォトニクス研究所, 特任講師 )
DOI：
https://doi.org/10.52926/JPMJTM20GH
Research overview：
申請者等が開発した複屈折プロファイラーは、特殊な回折格子に生じる偏光機能性を利用したもので、「2次元の複屈折分布」を、高速・高解像で「光強度分布」に変換し定量化できる。この技術を利用することで、延伸処理されたフィルムに生じている複屈折や厚さの分布を定量的にイメージングできる。従って、現在は熟練者が目視にて検査している、「ディスプレイ用途に代表される高品位のフィルム素材の検査」への応用が期待できる。そこで本研究では、このようなフィルム検査における企業ニーズに、複屈折プロファイラーによる定量的検査を適用し、上記の熟練検査者に匹敵する検査能力を有する光計測技術の実現可能性について検証する。
Terms in the title (4)：
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Research program：
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Organization with control over the research：
Japan Science and Technology Agency
