機器実働時に発生する局所応力・ひずみ測定システムの開発

Study period：2008 - 2008
Organization (1)：
Principal investigator： ( , 技術支援室, 参事(共同研究等の総合調整) )
Research overview：

ラマン散乱ピーク波数がひずみに依存して移動する高分子材料を測定対象にコーティングし、これをμmオーダの空間分解能を有する顕微ラマン分光法で測定することにより部品に発生する局所応力が測定可能なシステムを開発する。現場で実部品に容易にコーティングできる高分子材料とし、また照射・集光部を光ファイバを用いて分離し、遠隔型とすることにより、実稼動時の部品の破壊起点近傍の応力・ひずみを測定可能とする。

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Research program：＞＞＞＞
Organization with control over the research：

Japan Science and Technology Agency

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