新しい超伝導臨界電流密度測定システムの開発

Study period：2007 - 2007
Organization (1)：
Principal investigator： ( , 工学部電気電子工学科, 教授 )
Research overview：

小型の強力な永久磁石を用いて、高温超伝導薄膜の臨界電流密度(Jc)を測定するシステムを開発する。特にJcの面内分を測定できるシステム、各測定点のデータを自動的にコンピュータに取り込むソフトを開発し、Jcマッピング自動測定システムを完成させる。面内分布を測定するシステムは、測定端子を移動させる手法と試料を移動させる手法の2つが考えられるので、最良の方を採用する。

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Research program：＞＞＞＞
Organization with control over the research：

Japan Science and Technology Agency

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